Eine kleine Anzahl von Systemkomponenten enthält normalerweise die meisten entdeckten Defekte oder ist für die meisten Betriebsausfälle verantwortlich (Enders 1975). Dieses Phänomen ist eine
Veranschaulichung des Pareto-Prinzips. Vorhergesagte Defektcluster und tatsächliche Defektcluster, die während des
Tests oder im Betrieb beobachtet werden, sind ein wichtiger Input für risikobasiertes Testen (siehe Abschnitt 5.2).